背景

具体应用

根据被动元器件厂家产线的产量及良率要求，高速评价元器件特性（L/C/R/Z/Q等），测试数据分等级批次一次完成。配套测包机系统，兼顾系统兼容性和小尺寸治具。

LCR IM3536
高频阻抗分析仪 IM7580系列
微电阻计 RM3545
高阻计 SM7110

※记载的内容是根据2018年1月发行的仪器型号。产品参数可能会有更改，请以现在发行的为准。