半导体是指常温下导电性能介于导体和绝缘体质检的材料，目前，常用的半导体材料包括三种：硅、锗、砷化镓。 平时说的半导体，其实是指半导体元器件（或集成电路），也就是由半导体材料制造的电子元器件（或集成电路）。

半导体在我们熟悉的集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、汽车电子、大功率电源转换等领域都有应用，而日置HIOKI的测试仪器如功率分析仪、记录仪、数采、电池测试仪、LCR、阻抗测试仪等也在这些领域担任着重要的测试任务。

那么日置产品在半导体元器件（或集成电路）测试中的应用有哪些呢？以晶圆级MOSFET为例，晶圆电容-电压（C-V）特性曲线测试是半导体参数测试中的比较关注的一部分，CV频率范围根据不同的器件有1Hz-100Hz、10Hz-10KHz、10KHz-1MHz或者更高频段，通过上位机软件在固定频段下以0.1V或者0.5V的步进扫描电压测试C值，电压范围有-5V~+5V、 -10V~+10V、-20V~+20V、-30V~ +30V、-40V~+40V或者更高。（支持第三方软件控制）

通过C-V测量还可以对其他类型半导体器件和工艺进行特征分析，如：BJT晶体管，二极管与PN结，III-V族化合物，二维材料，金属材料，光子检测器件，钙钛矿与太阳能电池，LED与薄膜晶体管，非易失性存储器与材料，MEMS与传感器，分子与纳米器件，半导体器件特性分析与建模，器件噪声特性分析以及检测工艺参数和失效分析机制等。

半导参数测试中除了CV电容电压特性曲线测试，还有IV电流电压特性曲线测试，可以将LCR测试仪IM3536搭配皮安表SM7110以及其他测试仪器进行系统集成。

用于测试器件、材料等
● 针对DC以及1mHz~200kHz范围内的频率带宽可设置5位的分辨率（100Hz不到是1mHz分辨率）。能够进行共振频率的测量和在接近工作条件的状态下进行测量、评估。
● 测量频率1kHz，测量速度FAST时，可达最快2ms。有助于扫频高速化。
● Z的基本精度是±0.05%。从零部件检查到研究开发的测量，都能达到推荐精度。

直流偏置电压高达±500V
● 测量频率DC，4Hz~8MHz
● 测量时间：最快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg.
● mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中

可稳定测量高达3GHz的阻抗
● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量